Módulo 2 – Aplicações da Difração de raios X de Pó (21-25 outubro 2013)
Seg - 21 |
Ter -22 |
Qua - 23 |
Qui - 24 |
Sex - 25 |
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09:00-10:20 |
Dinnebier |
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Scardi |
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10:40-12:00 |
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12:00-14:00 |
Almoço |
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14:00-16:00 |
Livre |
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16:00-17:20 |
Dinnebier |
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Granado |
Scardi |
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17:40-19:00 |
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Bruker |
Cursos
"Determinação de estrutura usando Difração de Raios X de Pó"
Prof Robert Dinnibier (Max Planck Institute for Solid State Research in Stuttgart, Alemanha)
Parte teórica: O curso irá abordar aspectos fundamentais e aplicados de solução de estrutura usando dados de difração de pó; determinação do grupo espacial, e da estrutura inicial (diferentes métodos e abordagem); parâmetros de refinamento de estrutura (Método de Rietveld); Validação de estrutura cristalina.
Parte prática: exemplos e tutoriais com softwares
"Determinação de tamanho cristalino e microdeformação"
Prof. Paolo Scardi (Department of Civil, Environmental & Mechanical Engineering, University of Trento, Italy )
Resumo dos métodos de difração aplicado à análise da microestrutura dos materiais. Uma vez que o tamanho do cristalito e a presença de defeitos de rede têm uma influência decisiva sobre as propriedades de muitos materiais, informação sobre esta microestrutura é de importância vital para o desenvolvimento e avaliação de materiais para aplicações práticas. A técnica de difração de raios-X é sem dúvida a mais poderosa e, geralmente, não-destrutiva disponível são. Modelos de alargamento de linha de difração para determinar o tamanho de cristalito e deformação em escala atômica, devido, por exemplo, a deslocamentos, e métodos para a análise de tensão residual (macroescala).
Aspectos Teóricos
Análise de Perfil de Linha
A análise do padrão de difração completo
Modelagem de padrão de difração de pó: Teoria e Aplicações
Análise completa do perfil de linha de padrões de difração de raios-X na Investigação de materiais nanocristalinos
Modelagem de distribuição de tamanho de Cristalitos em refinamentos Rietveld
Prática: vários exemplos e tutoriais com softwares
Conferência
"Aplicações da Radiação Síncrotron na Difração de Raios X de Pó"
Prof Eduardo Granado (Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW) da Unicamp, Brasil)